Descripción
Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF) de laboratorio de Xenemetrix ofrecen la solución no destructiva definitiva en aplicaciones de análisis elemental. El detector de deriva de silicio (SDD) ofrece simultáneamente un menor ruido electrónico y tasas de conteo más altas, lo que se traduce en una mayor resolución de energía y resultados más rápidos en comparación con el detector Si-PIN.
El modelo Nova – Espectrómetros de 300 W cuenta con ocho objetivos secundarios que proporcionan la máxima sensibilidad para una cuantificación rápida y precisa incluso en matrices complejas como aleaciones, plásticos y muestras geológicas. Los objetivos son totalmente personalizables para lograr límites de detección inferiores a ppm en una amplia variedad de elementos.