Description
Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía (EDXRF) de laboratorio de Xenemetrix ofrecen la solución no destructiva definitiva en aplicaciones de análisis elemental. El detector de deriva de silicio (SDD) ofrece simultáneamente un menor ruido electrónico y tasas de conteo más altas, lo que se traduce en una mayor resolución de energía y resultados más rápidos en comparación con el detector Si-PIN.
El modelo Nova cuenta con ocho objetivos secundarios que proporcionan la máxima sensibilidad para una cuantificación rápida y precisa incluso en matrices complejas como aleaciones, plásticos y muestras geológicas. Los objetivos son totalmente personalizables para lograr límites de detección inferiores a ppm en una amplia variedad de elementos.
Estos versátiles espectrómetros de laboratorio pueden analizar líquidos, sólidos, lodos, polvos, gránulos y filtros de aire, mientras que la cámara analítica puede acomodar muestras de diferentes formas y tamaños.
El diseño integral del muestreador automático de 10 posiciones permite una mínima intervención humana al tiempo que permite la carga automática y el funcionamiento sin supervisión.
Este espectrómetro rápido, preciso y fácil de usar está equipado con hardware robusto y un potente software analítico para lograr límites de detección bajos.
La resolución de adquisición multicanal proporciona una relación pico-fondo superior para mejorar la respuesta del detector.