AXRD LPD Difracción de polvo
Descripción
El AXRD LPD es la plataforma multipropósito definitiva para todos sus experimentos de difracción de polvos. Este sistema versátil y de alta potencia le permite cambiar fácilmente la óptica de rayos X, las plataformas de muestra, las celdas ambientales y los detectores de rayos X mediante nuestro práctico sistema de intercambio de componentes prealineados sin necesidad de herramientas. Lleve su LPD de estándar a completamente equipado, o incluso actualícelo a difracción de alta resolución si sus necesidades experimentales cambian.
Con una precisión angular de < ± 0,01° Δ2θ en todo el rango angular, el AXRD LPD tiene la capacidad de afrontar desafíos de difracción altamente complejos. Este sistema es ideal para monocristales, películas delgadas y muestras a granel y en polvo.
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Ideal para
- Muestras a granel y en polvo
- Microdifracción
- Películas delgadas y recubrimientos
- Cristales individuales
- Descubrimiento de materiales
- Manipulación de muestras de alto rendimiento
- Configuraciones personalizadas
Características y Personalización
- Identificación de fase, refinamiento de Rietveld
- Análisis de textura y microestructura
- Tensión residual, austenita retenida
- GID, difracción en el plano
- XRR, curvas oscilantes, mapas de tensiones recíprocas
- PDF, solución de estructura
- SAXOS, CERAS
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