SEM3300 Filamento de tungsteno
Description
Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación
El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica “Super-Tunnel”, detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.
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CARACTERÍSTICAS
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Supere el límite de resolución de los SEM de filamento de tungsteno
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Detector de electrones en lente
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Lente objetivo combinada electromagnética y electrostática
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Más seguro de usar
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Excelente capacidad de expansión
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