Espectrómetro EDXRF Genius IF
Description
El Espectrómetro EDXRF Genius IF (objetivos secundarios) de Xenemetrix ofrece una solución rentable en el mercado actual de análisis elemental.El analizador proporciona una determinación cuantitativa y cualitativa no destructiva desde Carbono (6) hasta Fermio (100), proporcionando límites de detección desde sub-ppm hasta concentraciones de alto porcentaje de peso.
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Espectrómetro EDXRF de mesa con objetivos secundarios
- Sistema informático totalmente integrado
- Análisis elementales no destructivos
- Detector de deriva Silicon de alta resolución
- Potente tubo de rayos X con tamaños de punto variables, diseñado para acomodar muestras de varios tamaños
- Ocho objetivos secundarios y ocho filtros de tubo personalizables para una determinación rápida y precisa de elementos traza y menores
- Algoritmos de análisis cuantitativo
Aplicaciones clave
- Petroquímica
- Polímeros
- Metalúrgica
- Aleaciones
- Ambiental
- Petróleo
- Combustibles
- Diesel y Líquidos
- Minería y Geológica
- Forense
- Autenticación y Metales Preciosos
- Farmacéutica y Biomédica
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Additional information
| Marcas | Xenemetrix |
|---|---|
| Técnicas | Fluorescencia de Rayos X (XRF) |
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